??1、激光散射法

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。

　　缺點(diǎn)：分辨力較低。

　　2、動態(tài)光散射法

　　優(yōu)點(diǎn)：測試范圍寬（從納米到亞微米）、測試速度快，重復(fù)性好，操作簡便。

　　缺點(diǎn)：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

　　3、動態(tài)顯微鏡圖像法

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測量最大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

　　缺點(diǎn)：不能分析細(xì)顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。

　　4、靜態(tài)顯微鏡圖像法

　　優(yōu)點(diǎn)：成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

　　缺點(diǎn)：操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細(xì)顆粒（如 <2μm）。

　　5、重力和離心沉降法

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價格較低，測試范圍較大。

　　缺點(diǎn)：測試時間較長，操作復(fù)雜。

　　6、庫爾特（電阻）法

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。

　　缺點(diǎn)：不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品，維護(hù)時更換小孔管比較麻煩。

　　7、電鏡法

　　優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。

　　缺點(diǎn)：代表性差、儀器價格昂貴。

　　8、超聲波法

　　優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需稀釋樣品。

　　缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

　　9、光阻法

　　優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。

　　缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品。

　　10、篩分法

　　優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價低，常用于大于38μm（400目）的樣品。

　　缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大。